报告题目：Using GANs to improve industrial product inspection performance

报 告 人：李伟 副教授 江南大学

报告时间：2025年11月10日（星期一）15:00-16:00

报告地点：扬子津校区信息学院电工中心N104

主办单位：信息与人工智能学院（工业软件学院）、江苏省知识管理与智能服务工程研究中心、科学技术处

欢迎广大师生参加!

报告摘要：

当今世界主要工业国家正处于由“工业经济”模式向“信息经济”模式转变，“以高新技术为核心，以信息电子化为手段，提高工业产品附加值”已成为现代工业企业的重要发展目标。当前，生产制造过程的各个环节几乎都广泛应用人工智能技术。虽然相关技术大大提升了产品良品率，然而生产过程是一个多因素参合的复杂过程，突然断电、老旧机器零件替换不及时等不可抗拒因素仍可导致瑕疵产品出现。由于相关事件偶发，所以瑕疵产品数量稀少，目前生产厂商仍采用人工筛检瑕疵产品。虽然现有人工智能瑕疵产品检测模型，但是训练该模型要依赖大量样本，因而无法有效解决稀缺瑕疵样本检测问题。瑕疵产品的流通和使用会减少设备使用寿命、甚至会造成严重的安全事故。报告人长期与工业界广泛合作，基于生成模型展开了一系列提升瑕疵产品检测性能工作，并帮助企业开发了不同规格O型圈瑕疵检测系统、食品包装表面瑕疵检测系统等。

报告人简介：

李伟，江南大学人工智能与计算机学院副教授、硕导；《武汉大学学报.理学版》青年编委；CIKM2024/2025 PC member；ICDCS2024 PC member；ECAI2024/2025 PC member；IEEE BigData2025 PC member；IET Software/EURASIP Journal on Wireless Communications and Networking/Journal of Cognitive Robotics Guest Editor；2024/2025年入选ESI高被引论文各1篇；IEEE会员、CAAI会员、CCF会员；江苏省SC博士；武汉大学国家网络安全学院软件工程专业博士，主要研究领域为深度生成模型、目标识别、隐私计算；美国马塞诸塞州大学波士顿访问学者(Visiting Scholar)和香港理工大学Research Assistant和Research Fellow；以第一作者/通讯作者发表论文40余篇，包括IEEE TC, TMC，TCYB，TNNLS，T-ASE，TCSVT，TCBB， TII，TIM，ACM ToMM，PR，NN等。