报告题目：软件定义芯片下硬件描述语言的缺陷检测与定位

报 告 人：雷晏 教授

报告时间：2024年10月17日（星期四）14:30—16:30

报告地点：扬子津校区信息工程学院305会议室

主办单位：信息工程学院（人工智能学院）、江苏省知识管理与智能服务工程研究中心、科学技术处

欢迎大家参加!

报告摘要：软件定义芯片作为新型芯片设计方法，硬件描述语言是其中的核心。硬件描述语言跟程序语言一样面临着严重的缺陷问题，亟待解决。本报告介绍软件定义芯片下硬件描述语言的缺陷检测与定位的研究工作，主要思想是借助于软件技术解决硬件领域的缺陷问题。报告内容将依次详细介绍基于程序谱的FPGA代码缺陷定位、面向FPGA代码的变异测试、知识增强的基于变异的硬件设计代码定位三个研究工作。期望与各位专家建立广泛合作。

报告人简介：雷晏，博导，重庆大学大数据与软件学院教授，软件工程系主任，大数据智能与服务计算研究中心副主任，鹏城实验室访问学者，重庆市软件技术创新战略联盟副秘书长，CCF软工专委及开源发展委委员。主要从事缺陷检测、定位、修复等自动化缺陷诊治研究，近年来主持国家重点研发计划课题、国家自然科学基金等国家级项目4项以及省部级项目4项，在领域顶级会议和期刊（ICSE、ASE、ISSTA、OOPSLA、DAC、TSE、TOSEM、《软件学报》等）发表50多篇学术论文，获CCF推荐国际会议最佳/杰出论文奖2次，发明专利10余项。